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Estruturas de Teste para Avaliação de Variabilidade Estatística em Dispositivos CMOS abaixo de 100nm.

dc.contributor.advisorBampi, Sergiopt_BR
dc.contributor.authorCamaratta, Giovano da Rosapt_BR
dc.contributor.authorWerle, Felipe Correapt_BR
dc.contributor.authorBrito, Juan Pablo Martinezpt_BR
dc.date.accessioned2012-05-15T17:54:14Zpt_BR
dc.date.issued2009pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/43412pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleEstruturas de Teste para Avaliação de Variabilidade Estatística em Dispositivos CMOS abaixo de 100nm.pt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.sessionMicroeletrônicapt_BR
dc.subject.themeMicroeletrônicapt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.description.number5pt_BR
dc.identifier.sic3075pt_BR
dc.subject.macroInformáticapt_BR


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Nombre:
Resumo_3075.PDF
Tamaño:
30.62Kb
Formato:
PDF
Descripción:
Resumo
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