Estruturas de Teste para Avaliação de Variabilidade Estatística em Dispositivos CMOS abaixo de 100nm.

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Date
2009
Author
Advisor
Type
URI
http://hdl.handle.net/10183/43412
Event
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Subject
Presentation type
Apresentação oral
Knowledge area
Exact and earth sciences
In
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009.
Session
Microeletrônica
Theme
Microeletrônica
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