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Isolação Elétrica em GaAs irradiado com prótons: estudo dos defeitos utilizando Espectroscopia de Transientes de Níveis Profundos (DLTS)

dc.contributor.advisorBoudinov, Henri Ivanovpt_BR
dc.contributor.authorAdam, Matheus Coelhopt_BR
dc.contributor.authorCoelho, Artur Vicente Pfeiferpt_BR
dc.date.accessioned2012-05-15T17:12:20Zpt_BR
dc.date.issued2009pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/42153pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleIsolação Elétrica em GaAs irradiado com prótons: estudo dos defeitos utilizando Espectroscopia de Transientes de Níveis Profundos (DLTS)pt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.sessionProcessamento e análise de materiais bpt_BR
dc.subject.themeProcessamento e análise de materiaispt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.description.number3pt_BR
dc.identifier.sic945pt_BR
dc.subject.macroFísicapt_BR


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Nombre:
Resumo_945.pdf
Tamaño:
46.76Kb
Formato:
PDF
Descripción:
Resumo
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