MOSFET mismatch modeling : a new approach
![Thumbnail](/bitstream/handle/10183/27609/000645181.pdf.jpg?sequence=3&isAllowed=y)
Visualizar/abrir
Data
2006Tipo
Contido em
IEEE design and test of computers. California. vol. 23, no. 1 (Jan./Feb. 2006), p. 20-29
Origem
Estrangeiro
Coleções
-
Artigos de Periódicos (39320)Engenharias (2403)
Este item está licenciado na Creative Commons License
![](/themes/Mirage2Novo//images/lume/cc.png)