MOSFET mismatch modeling : a new approach

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Texto completo (inglês) (739.8Kb)

Data

2006

Autor

Klimach, Hamilton Duarte

Arnaud, Alfredo

Montoro, Carlos Galup

Schneider, Marcio Cherem

Tipo

Artigo de periódico

URI

http://hdl.handle.net/10183/27609

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Assunto

Circuitos eletrônicos

Microeletrônica

Contido em

IEEE design and test of computers. California. vol. 23, no. 1 (Jan./Feb. 2006), p. 20-29

Origem

Estrangeiro

Coleções

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