Statistical model for the circuit bandwidth dependence of low-frequency noise in deep-submicrometer MOSFETs
Fecha
2007Materia
Abstract
En
IEEE transactions on electron devices. New York, NY. vol. 54, no. 2 (Feb. 2007), p. 340-345
Origen
Estranjero
Colecciones
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Artículos de Periódicos (39077)Ingeniería (2395)
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Artículos de Periódicos (39077)Ciencias Exactas y Naturales (5943)
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