Determinação experimental de seção de choque de produção eficaz de Raios X com feixe de prótons para filmes de Alumínio e Al2O3
dc.contributor.advisor | Vasconcellos, Marcos Antonio Zen | pt_BR |
dc.contributor.author | Bertol, Ana Paula Lamberti | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2011-01-08T06:01:19Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2010 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/27328 | pt_BR |
dc.description.abstract | Nas técnicas de microanálise, como espectroscopia de emissão de raios X induzida por partículas (Particle Induced X Ray Emission - PIXE), o valor das intensidades medidas no espectro está relacionado com a concentração dos elementos correspondentes. Os programas que fazem esta transformação usam uma série de parâmetros físicos a fim de corrigir os efeitos da matriz. São algoritmos complexos e que precisam de uma vasta biblioteca de parâmetros, entre os quais a seção de choque de produção eficaz de raios X: uma medida da probabilidade de geração de fótons associados a uma linha característica. O objetivo deste trabalho é obter experimentalmente este parâmetro, a partir de medidas de PIXE em filmes finos, cujas espessuras foram obtidas usando as técnicas de Retroespalhamento de Rutherford (RBS) e a Refletometria de raios X (XRR). | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Filmes finos | pt_BR |
dc.subject | Espectrometria de retroespalhamento rutherford | pt_BR |
dc.subject | Reflexão de raios-x | pt_BR |
dc.title | Determinação experimental de seção de choque de produção eficaz de Raios X com feixe de prótons para filmes de Alumínio e Al2O3 | pt_BR |
dc.type | Trabalho de conclusão de graduação | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000764503 | pt_BR |
dc.degree.grantor | Universidade Federal do Rio Grande do Sul | pt_BR |
dc.degree.department | Instituto de Física | pt_BR |
dc.degree.local | Porto Alegre, BR-RS | pt_BR |
dc.degree.date | 2010 | pt_BR |
dc.degree.graduation | Física: Bacharelado | pt_BR |
dc.degree.level | graduação | pt_BR |
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