Influência de danos e oxigênio na migração de C para a interface SiO2/Si
dc.contributor.advisor | Maltez, Rogerio Luiz | pt_BR |
dc.contributor.author | Rodrigues Junior, Ricardo Gava | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2023-12-18T11:48:46Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2023 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/270009 | pt_BR |
dc.format.mimetype | video/mp4 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | pt_BR |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Influência de danos e oxigênio na migração de C para a interface SiO2/Si | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (35. : 2023 nov. 6-10 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.theme | Física experimental | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Ciências exatas e da terra | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.identifier.sic | 83088 | pt_BR |
Este item está licenciado na Creative Commons License