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dc.contributor.advisorNazar, Gabriel Lucapt_BR
dc.contributor.authorTonetto, Rafael Billigpt_BR
dc.date.accessioned2023-11-28T03:22:43Zpt_BR
dc.date.issued2023pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/267701pt_BR
dc.description.abstractTechnology scaling has been successfully improving the performance of current microprocessors primarily due to the reduced node size that enables increased transistor integration, allowing for the design and widespread adoption of high-performance and highly heterogeneous chips. However, despite the slowdown of Moore’s Law, the improved transistor integration is accompanied by complex technological challenges and trade-offs that must be addressed. In particular, smaller technology nodes impose increased reliability, power density, and process variation issues that penalize performance, energy efficiency, and yield. Additionally, overcoming such challenges is especially tricky for devices operating at the edge due to the limited power budgets and battery dependency. This thesis, then, proposes a set of methodologies to improve non-functional requirements for heterogeneous chips targeting edge-based applications subject to power, reliability, and process variation constraints. First, we leverage the application and microarchitectural heterogeneity of cores and propose a low-cost learning method for reliability-oriented mappings that provide near-to-optimal Mean Workload to Failure (MWTF) of heterogeneous chips. With the prediction-based mappings, we achieve MWTF as close as 5.6% to the oracle in a low overhead and transparent fashion. Secondly, aiming to improve powerconstrained edge devices’ performance and energy efficiency, we propose a design-time strategy for chip customization with Near-Threshold Voltage (NTV). Here, we develop an efficient method to allocate NTV and conventional cores in the same die. In this setup, only an optimal subset of the cores are set to operate at NTV, leaving the remaining cores at conventional voltage settings, attenuating the frequency degradation overheads of NTV. Finally, as NTV comes at the cost of exacerbated process variations, we propose a two-step methodology to address delay and power variations on heterogeneous chips. At design time, we augment our chip composition strategy with parameter variation models and develop a statistical and variation-aware design space exploration for heterogeneous chip composition. At the post-design phase, we propose an efficient frequency adaptation mechanism to further cope with unseen parameter variations and improve either performance or yield. We show that under strict power and process variation restrictions, our proposal improves performance by an average of 3.4 times compared to standard NTV approaches and 12% when compared to chips at conventional voltage levels.en
dc.description.abstractA escalabilidade tecnológica tem melhorado com sucesso o desempenho dos microprocessadores atuais, principalmente devido ao tamanho reduzido dos circuitos que permite uma maior integração de transistores, possibilitando o projeto e a adoção generalizada de chips altamente heterogêneos e de alto desempenho. No entanto, apesar da desaceleração da Lei de Moore, a alta integração de transistores é acompanhada por desafios tecnológicos e trade-offs difíceis de serem enfrentados. Em especial, transistores menores impõem problemas de confiabilidade, densidade de potência e variabilidade de processo que penalizam o desempenho, a eficiência energética e o yield quando não são adequadamente abordados. Superar esses desafios é especialmente difícil para dispositivos que operam em ambientes de borda devido aos limites de potência e à dependência de baterias. Nesta tese, propomos uma metodologia abrangente para melhorar os requisitos não funcionais de chips heterogêneos destinados a aplicações de borda sujeitas a restrições de potência, confiabilidade e variabilidade de processo. Primeiro, aproveitamos a heterogeneidade de aplicações e de microarquitetura dos núcleos de processadores e propomos um método de aprendizado de baixo custo para mapeamentos orientados à confiabilidade que fornecem um tempo médio de carga até a falha (MWTF, na sigla em inglês) próximo ao ideal para chips heterogêneos. Com os mapeamentos baseados em previsão, alcançamos um MWTF tão próximo quanto 5,6% do oráculo com baixo custo e de forma transparente. Em segundo lugar, com o objetivo de melhorar o desempenho e a eficiência energética de dispositivos de borda com restrição de potência, propomos uma estratégia de configuração de chips em tempo de projeto com uso de Tensão Próxima do Limiar (NTV). Desenvolvemos uma estratégia eficiente para alocar núcleos tanto NTV quanto convencionais no mesmo chip. Nessa configuração, apenas um subconjunto ótimo dos núcleos opera com NTV, deixando os demais núcleos com configurações convencionais de tensão, reduzindo assim as perdas de frequência decorrentes do uso de NTV. Por fim, como o uso de NTV acarreta variabilidades de processo exacerbadas, propomos uma metodologia em duas etapas para lidar com variabilidades de frequência e potência em chips heterogêneos. No momento do projeto, aprimoramos nossa estratégia anterior de composição de chips com modelos de variabilidade de parâmetros e desenvolvemos uma exploração estatísticae ciente da variabilidade do espaço de design para a composição de chips heterogêneos. Na fase pós-projeto, implementamos um mecanismo eficiente de adaptação de frequência para lidar com variabilidade de parâmetros não previsíveis e melhorar o desempenho ou o yield. Mostramos que, sob restrições estritas de potência e variabilidade de processo, nossa proposta melhora o desempenho, em média, em 3,4 vezes em comparação com abordagens padrão de NTV e em 12% em comparação com chips em níveis convencionais de tensão.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoengpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroprocessadorespt_BR
dc.subjectReliabilityen
dc.subjectNear-threshold voltageen
dc.subjectSistemas heterogêneospt_BR
dc.subjectProcess variationen
dc.subjectTolerância a falhaspt_BR
dc.subjectProcessamento : Alto desempenhopt_BR
dc.titleA reliability- and variation-aware methodology for improved processor designs for the edge computing domainpt_BR
dc.title.alternativeUma metodologia visando melhoria de confiabilidade e variação de processos em processadores no domínio da computação na borda pt
dc.typeTesept_BR
dc.contributor.advisor-coBeck Filho, Antonio Carlos Schneiderpt_BR
dc.identifier.nrb001188200pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Computaçãopt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2023pt_BR
dc.degree.leveldoutoradopt_BR


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