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dc.contributor.advisorButzen, Paulo Franciscopt_BR
dc.contributor.authorSouza, Laís Lopes dept_BR
dc.date.accessioned2023-07-04T14:14:37Zpt_BR
dc.date.issued2022pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/260942pt_BR
dc.format.mimetypevideo/mp4pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleCaracterização de dispositivos MOSFET em tecnologias nanométricaspt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (34. : 2022 set. 26-30 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.themeEngenharia elétricapt_BR
dc.subject.cnpqEngenhariaspt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.identifier.sic77093pt_BR
dc.subject.macroEngenhariapt_BR


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