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dc.contributor.advisorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.contributor.authorHervé, Marcos Barcellospt_BR
dc.date.accessioned2010-09-02T04:18:50Zpt_BR
dc.date.issued2009pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/25498pt_BR
dc.description.abstractEste trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede.pt_BR
dc.description.abstractThe purpose of this work is to study and propose functional test methods that aim the detection and location of faults in the NoC’s infrastructure. In order to do so, this work presents, initially, a description of the main characteristics of networks-on-chip, explaining what are NoCs and what is their purpose. Fallowing this description, some concepts related to the test of integrated circuits are presented as well as related works on NoC testing. A method aiming the detection of data interconnect faults in a NoC is presented in this work. This method is later extended to include faults in the control interconnections as well. The circuits used to implement the proposed strategy are also described here. Based on the proposed test strategy, the method’s capability to locate faults is studied. Changes are proposed to the test method in order to increase this fault location capability. Finally, the test method is extended to include faults inside the router’s logic.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectNetworks-on-chipen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectTesten
dc.subjectTestes : Sistemas digitaispt_BR
dc.subjectFault locationen
dc.subjectRoutersen
dc.subjectInterconnectionsen
dc.titleMétodos de teste de redes-em-chip (NoCs)pt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.identifier.nrb000751072pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Físicapt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Químicapt_BR
dc.degree.departmentEscola de Engenhariapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Microeletrônicapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2009pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


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