Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET

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Fecha
2018
Autor
Tutor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/192456
Evento
Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (8. : 2018 out. 15-19 : Porto Alegre, RS).
Materia
Tipo de presentación
Apresentação oral
Grande Área
Engineering
Sesión
Sessão 5
Colecciones
 
   

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