Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET

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Date
2018
Author
Advisor
Type
URI
http://hdl.handle.net/10183/192456
Event
Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (8. : 2018 out. 15-19 : Porto Alegre, RS).
Subject
Presentation type
Apresentação oral
Knowledge area
Engineering
Session
Sessão 5
Collections
 
   

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