Medidor não invasivo de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de raios x
dc.contributor.advisor | Elbern, Alwin Wilhelm | pt_BR |
dc.contributor.author | Laan, Flavio Tadeu van der | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2010-01-19T04:14:46Z | pt_BR |
dc.date.issued | 1996 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/18276 | pt_BR |
dc.description.abstract | Neste trabalho, propõe-se desenvolver um medidor para controle de qualidade em RX diagnóstico, que permite medidas rápidas de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de RX, de modo não invasivo, baseado na leitura frontal do feixe. A unidade é composta de dois diodos fotovoltaicos como transdutores, amplificadores de corrente, como condicionadores de sinais e de um sistema de aquisição e processamento, para o tratamento do sinal digital. 0 medidor permite a medida da alta tensão de pico (kVp), taxa de exposição (R/min), e do tempo de exposição (s) em aparelhos de RX, na faixa de 50 a 150 kVp. As medidas são realizadas num sistema microprocessado, programadas por teclado e apresentadas num display alfanumérico. São memorizadas e transferidas a um microcomputador por meio de uma saída serial | pt_BR |
dc.description.abstract | This work contains a development of an instrument for non invasive as well fast measurement of essential parameters related to quality control of X-ray equipment's using only the frontal reading of the beam intensity. The unit is composed of a data acquisition system for reading two Photovoltaic diodes sensor, for measurement of Peak Kilovoltage (kVp), Exposure Rate (R/min) and Exposure Time (s) of the x-ray equipment. The measurements are performed with microprocessed instrumentation, with programmed keyboard ability, alphanumeric display, memory data storage and serial output to microcomputer connection. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Proteção radiológica | pt_BR |
dc.subject | Instrumentação | pt_BR |
dc.subject | Raios X | pt_BR |
dc.subject | Medidor não-invasivo | pt_BR |
dc.title | Medidor não invasivo de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de raios x | pt_BR |
dc.type | Dissertação | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000199783 | pt_BR |
dc.degree.grantor | Universidade Federal do Rio Grande do Sul | pt_BR |
dc.degree.department | Escola de Engenharia | pt_BR |
dc.degree.program | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Metalurgica e dos Materiais | pt_BR |
dc.degree.local | Porto Alegre, BR-RS | pt_BR |
dc.degree.date | 1996 | pt_BR |
dc.degree.level | mestrado | pt_BR |
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