Análise da criticalidade de erros causados por radiação em dispositivos paralelos

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Fecha
2016
Autor
Tutor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/154208
Evento
Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de presentación
Apresentação oral
Grande Área
Ciencias Exactas y de la Tierra
Sesión
Processamento paralelo e distribuído
Tema
Processamento paralelo e distribuído
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