Circuito de Teste para Caracterização de Variabilidade de Diodos Schottky

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Data
2016
Autor
Orientador
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/154088
Evento
Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de apresentação
Apresentação oral
Grande Área
Engenharias
Sessão
Engenharia elétrica i
Temática
Engenharia elétrica
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