Circuito de Teste para Caracterização de Variabilidade de Diodos Schottky

dc.contributor.advisor	Klimach, Hamilton Duarte	pt_BR
dc.contributor.author	Pedrini, Marcelo	pt_BR
dc.date.accessioned	2017-03-20T10:45:58Z	pt_BR
dc.date.issued	2016	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/154088	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	Circuito de Teste para Caracterização de Variabilidade de Diodos Schottky	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Engenharia elétrica i	pt_BR
dc.subject.theme	Engenharia elétrica	pt_BR
dc.subject.cnpq	Engenharias	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	1	pt_BR
dc.identifier.sic	47018	pt_BR
dc.subject.macro	Engenharia	pt_BR

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