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dc.contributor.advisorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.contributor.authorFantinel, William Mendespt_BR
dc.date.accessioned2017-03-16T02:20:19Zpt_BR
dc.date.issued2016pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/153231pt_BR
dc.description.abstractEste trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste.pt_BR
dc.description.abstractThe goal of this work is to study development methods of semiconductor tests in low-cost tests and propose tools in order to provide cost reduction of these tests. In order to do so, this work presents, in its first part, an introduction to automatic test equipments, explaining what are ATEs and what is their purpose. Then it presents semiconductor testing mechanisms, both internal and external to the integrated circuit. Then three case studies are presented in separate integrated circuits that exemplify the implementation of the respective tests. In the second part, the concepts of semiconductor test costs are presented. With the use of these concepts, analysis are accomplished for the three case studies, through test cost analysis tools.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectSemicondutorespt_BR
dc.subjectATEen
dc.subjectSemiconductor testsen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectCost of semiconductor testsen
dc.titleModelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutorespt_BR
dc.title.alternativeModel for cost projection and capability for semiconductor tests en
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.identifier.nrb001014654pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Microeletrônicapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2016pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


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