ATPG para teste de circuitos analogicos e mistos

Abstract

Este trabalho tem como objetivo realizar um estudo do problema de teste de circuitos analógicos e mistos, propondo uma metodologia de teste e apresentando uma ferramenta para geração automática de vetores de teste (ATPG). A necessidade deste tipo de pesquisa torna-se clara no momento em que um número cada vez maior de aplicações requer algum tipo de interação entre dispositivos analógicos e digitais, não só em se tratando de placas de circuito impresso, mas também em um mesmo circuito integrado. A metodologia prevê a detecção de falhas paramétricas, de grandes desvios e catastróficas em circuitos lineares e não-lineares. Além disso. a ocorrência de falhas de interação é considerada, assim como a definição de vetores para diagnóstico que garantam máxima cobertura de falhas. Inicialmente são apresentados alguns aspectos teóricos relacionados ao teste deste tipo de circuitos (complexidade do teste, abordagens existentes e trabalhos correlatos). A seguir, são apresentados o modelo de falhas utilizado e a metodologia proposta, bem como a ferramenta de ATPG. A técnica é aplicada, então, a dois circuitos. O processo de geração dos vetores de teste é explicado e exemplos de vetores gerados são apresentados. Posteriormente, uma proposta de automatização do método é feita, acompanhada da descrição de algumas ferramentas comerciais utilizadas. Por fim, os resultados e conclusões são apresentados.

This work aims at studying the testing problems related to analog and mixedsignal circuits. This kind of research is very useful nowadays, since there is a great demand for circuits that need some kind of interaction between analog and digital blocks. This document presents a method and an automatic test pattern generation tool aplicable to the detection of soft, large and hard fault in linear and non-linear circuits. This method considers, also, interaction faults and computes diagnose vectors that garantee maximal fault coverage. At first. a brief review of methods. approaches and related works is presented. Then. the fault model used and the test methodology are defined. and an ATPG tool is proposed. Next, the ATPG algorithm is applied to a linear and to a non-linear circuit. The test vector generation process and the test vectors computed are then shown. After that a way to automatize the ATPG tool is discussed under the light of those commercial tools that were used in this work. Finally. the conclusions and results are presented.