Spectral polarimetry technique as a complementary tool to ellipsometry of dielectric films

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Fecha
2011
Autor
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/107245
Evento
Optical Society of America. Topical Meeting on Optical Interference Coatings. (11. : 2010 June 6–11 : Tucson)
Materia
En
Applied optics (2004). Washington, DC
Origen
Estranjero
Colecciones
 
   

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