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    • Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects 

      Copetti, Thiago Santos (2021) [Thesis]
      The development of Fin Field Effect Transistor (FinFET) has made possible the continuous scaling-down of Complementary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) technology, overcoming issues caused by the Short-Channel Effects. In ...
    • Síntese automática do leiaute de redes de transistores 

      Ziesemer Junior, Adriel Mota (2014) [Thesis]
      Fluxo de síntese física baseado em standard cells tem sido utilizado na indústria e academia já há um longo período de tempo. Esta técnica é conhecida por ser bastante confiável e previsível uma vez que a mesma biblioteca ...