Navegação por Assunto "Testes : Circuitos integrados"
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Um ambiente de software para a automação de procedimentos de caracterização e teste
(1995) [Resumo publicado em evento] -
Antes : analisador de testabilidade
(1990) [Resumo publicado em evento] -
Designing fault-tolerant techniques for SRAM-Based FPGAs
(2004) [Artigo de periódico] -
Um Estudo de técnicas de aceleração para algoritmos de análise de timing funcional baseados em geração automática de teste
(2002) [Dissertação]Este trabalho tem como objetivo estudar e avaliar técnicas para a aceleração de algoritmos de análise de timing funcional (FTA - Functional Timing Analysis) baseados em geração automática de testes (ATPG – Automatic Test ... -
Inserção de testabilidade em um núcleo pré-projetado de um microcontrolador 8051 fonte compatível
(2002) [Dissertação]No intuito de validar seus projetos de sistemas integrados, o Grupo de Microeletrônica da UFRGS tem investido na inserção de estruturas de teste nos núcleos de hardware que tem desenvolvido. Um exemplo de tal tipo de sistema ... -
KL-cuts : a new approach for logic synthesis targeting multiple output blocks
(2010) [Dissertação]Esta dissertação introduz o conceito de cortes KL, o que permite controlar tanto o número K de entradas como o número L de saídas em uma região de um circuito. O projeto de um circuito digital pode ser dividido em duas ... -
Le test unifié de cartes appliqué à la conception de systèmes fiables
(1994) [Tese]Si on veut assurer de fawn efficace les tests de conception, de fabrication, de maintenance et le test accompli au cours de l'application pour les systemes electroniques, on est amend a integrer le test hors-ligne et le ... -
Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits
(2005) [Tese]With the ever increasing demands for high complexity consumer electronic products, market pressures demand faster product development and lower cost. SoCbased design can provide the required design flexibility and speed ... -
Um microprocessador com capacidades analógicas
(2002) [Dissertação]Este trabalho apresenta um estudo, implementação e simulação de geradores de sinais analógicos usando-se circuitos digitais, em forma de CORE, integrando-se este com o microprocessador Risco. As principais características ... -
On-silicon testbench for validation of soft logic cell libraries
(2008) [Dissertação]Projeto baseado em células-padrão é a abordagem mais aplicada no mercado de ASIC atualmente. Essa abordagem de projeto consiste no reuso de bibliotecas de células pré-customizadas para gerar sistemas digitais mais complexos. ... -
Reuse-based test planning for core-based systems-on-chip
(2003) [Tese]Electronic applications are currently developed under the reuse-based paradigm. This design methodology presents several advantages for the reduction of the design complexity, but brings new challenges for the test of the ... -
Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
(1986) [Dissertação]O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ... -
Validação de protótipo e análise de falhas no teste com feixe de elétrons : um estudo visando a sua automação
(1991) [Dissertação]O trabalho aqui apresentado descreve algumas pesquisas em teste de circuitos integrados. Estas pesquisas consistem, por um lado, na análise de falhas e por outro, na validação de protótipos, ambas fazendo uso de técnicas ...