Navegação por Assunto "Propagacao : Erro"
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Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas
(2007) [Artigo de periódico]Em tecnologias nanométricas, variações nos parâmetros CMOS são um desafio para o projeto de circuitos com yielda apropriado. Neste trabalho nós propomos uma metodologia eficiente e precisa para a modelagem estatística de ...