Listar por tema "Flip-flop characterization"
Mostrando ítems 1-1 de 1
-
Protecting digital circuits against hold time violations due to process variations
(2007) [Tesis]Com o desenvolvimento da tecnologia CMOS, os circuitos estão ficando cada vez mais sujeitos a variabilidade no processo de fabricação. Variações estatísticas de processo são um ponto crítico para estratégias de projeto de ...