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Ensaio sobre os efeitos de envelhecimento acelerado decorrentes de BTI em circuitos digitais
Reinicke, Murilo Eduardo (2024) [Tesinas de grado]O presente trabalho teve como objetivo estudar o comportamento de FPGAs afetados por envelhecimento acelerado, mais especificamente através do fenômeno de BTI, ou Bias-Temperature Instability, que ocorre em decorrência da ...